IEC62446-1:2018測(cè)試程序

IEC62446-1:2018測(cè)試程序  光伏串 – 電流測(cè)量

光伏串電流測(cè)量測(cè)試的目的是確保系統(tǒng)的正常運(yùn)行，并驗(yàn)證在光伏陣列布線中沒有重大問題，這些測(cè)試不作為組件/陣列性能的測(cè)量。

短路測(cè)試或正常運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)測(cè)試均可，可能的情況，優(yōu)選短路測(cè)量，因?yàn)樗鼘⑴懦齺碜阅孀兤鞯娜魏斡绊?/span>測(cè)試結(jié)果應(yīng)在10%偏差以內(nèi),大于10%可能跟光照，遮擋，組件損壞，安裝故障有關(guān)。

注意：I-V 曲線測(cè)試也與變頻器無關(guān)，并提供了進(jìn)行此測(cè)試的良好替代方法

對(duì)比方法有兩種

通過廠家提供的在測(cè)試時(shí)輻照度條件下的功率曲線對(duì)比或者通過廠家組件在STC狀態(tài)下的短路電流推算當(dāng)前狀態(tài)下的短路電流，偏差不超過10%（建議用IV曲線測(cè)試儀或?qū)Ｓ瞄_路電壓短路電流測(cè)試儀測(cè)試后推算STC狀態(tài)下的短路電流值和廠家出廠STC數(shù)據(jù)對(duì)比）

對(duì)于同類型組件在輻照度穩(wěn)定時(shí)可以相互對(duì)比偏差不大于10%，在輻照度不穩(wěn)定情況下可以延遲測(cè)試或通過多個(gè)儀表測(cè)量短路，其中一個(gè)做為基準(zhǔn)，其它測(cè)量值和其對(duì)比

光伏串 - 短路電流測(cè)試

首先確保所有開關(guān)設(shè)備和斷開裝置都打開，并且所有光伏串彼此隔離，輻照度穩(wěn)定（5w/㎡內(nèi)波動(dòng)）后進(jìn)行短路測(cè)試。

短路方法有三種：

a）使用具有短路電流測(cè)量功能的測(cè)試儀器（例如專用光伏測(cè)試儀PV150/200，如右圖接線，短路和測(cè)量一起完成）；

b）臨時(shí)連接到已經(jīng)存在于所述串電路中的負(fù)載斷路開關(guān)裝置中的短路電纜;

c）使用“短路開關(guān)測(cè)試箱”

光伏串 – 正常運(yùn)行電流測(cè)試（輻照度不穩(wěn)定的測(cè)試方法）

☆ 在系統(tǒng)開啟并處于正常操作模式（逆變器最大功率點(diǎn)跟蹤）的情況下，應(yīng)使用放置在串電纜周圍的適當(dāng)夾式電流表測(cè)量來自每個(gè)光伏串的電流。

☆ 對(duì)于具有多個(gè)相同串的系統(tǒng)，并且在存在穩(wěn)定的輻照度條件的情況下，應(yīng)當(dāng)比較各個(gè)串中的電流的測(cè)量。

☆ 測(cè)試可被延遲。

☆ 可以使用多個(gè)儀表進(jìn)行測(cè)試，其中一個(gè)儀表在參考串上。

☆ 可以使用輻照度計(jì)讀數(shù)來校正短路電流讀數(shù)。

☆ 可以使用專門的光伏測(cè)試儀（具有輻照度測(cè)量）。

☆ 可以執(zhí)行I-V曲線測(cè)試。

☆ 備注：PV200套裝滿足輻照度不穩(wěn)定下的各種測(cè)試方案

IEC62446-1:2018測(cè)試程序 功能測(cè)試：

應(yīng)進(jìn)行以下功能試驗(yàn)：

☆ 匯流箱，開關(guān)柜和其他控制設(shè)備的功能應(yīng)進(jìn)行試驗(yàn)，包括但不限于顯示，控制，通訊，開關(guān)機(jī)等功能，確保正確的安裝，連接及運(yùn)行。

☆ 光伏系統(tǒng)中所有逆變器應(yīng)進(jìn)行測(cè)試，以確保正常工作。測(cè)試程序應(yīng)如變頻器制造商定義。

IEC62446-1:2018測(cè)試程序光伏陣列絕緣電阻測(cè)試

應(yīng)進(jìn)行以下功能試驗(yàn)：

執(zhí)行此測(cè)試存在潛在的電擊危險(xiǎn)，因此，在開始任何工作之前完全理解該過程，應(yīng)遵循以下基本安全措施

☆ 限制對(duì)測(cè)試區(qū)域的非授權(quán)進(jìn)入

☆ 進(jìn)行絕緣測(cè)試時(shí)，請(qǐng)勿觸摸任何并采取措施防

☆ 止任何其他人觸摸任何金屬部件

☆ 進(jìn)行絕緣測(cè)試時(shí)，請(qǐng)勿觸摸任何并采取措施防

☆ 止任何其他人觸摸組件背板，組件層壓板及連接端子

☆ 在絕緣測(cè)試設(shè)備使用時(shí)，測(cè)試區(qū)域都有電壓，該設(shè)備應(yīng)具有自動(dòng)自放電能力。

☆ 在測(cè)試期間，應(yīng)穿戴合適的個(gè)人防護(hù)服/設(shè)備。

光伏陣列絕緣電阻測(cè)試方法：

☆ 測(cè)試方法1 - 在陣列負(fù)極和地之間進(jìn)行測(cè)試，然后在陣列正極和地之間進(jìn)行測(cè)試。

☆ 測(cè)試方法2 – 在接地與短路陣列正負(fù)極之間進(jìn)行測(cè)試。

備注：

1、在結(jié)構(gòu)/框架接地的情況下，接地連接可以是任何合適的接地連接或陣列框架

2、對(duì)于陣列框架未接地的系統(tǒng)，調(diào)試工程師可以進(jìn)行兩個(gè)測(cè)試：i）在陣列電纜和地之間  ii）以及在陣列電纜和框架之間。

3、對(duì)于沒有可接觸導(dǎo)電部件的陣列（例如，光伏屋面瓦），測(cè)試應(yīng)在陣列電纜和建筑物地面之間。

測(cè)試流程：

開始測(cè)試之前：

☆ 限制非授權(quán)人員進(jìn)入

☆ 將光伏陣列與逆變器隔離

☆ 斷開可影響接線盒或組合箱中絕緣測(cè)量的任何設(shè)備（例如過壓保護(hù)裝置）

絕緣電阻 – 10 kWp以內(nèi)的光伏陣列

絕緣電阻 –高于10 kWp的光伏陣列,應(yīng)該遵循下列兩種方法：

方法A

對(duì)以下進(jìn)行絕緣電阻測(cè)試：

單個(gè)組串；或組合串

方法B

做為方法A的代替方法，允許測(cè)試整個(gè)陣列（或子陣列）的方案，如果低于要求的絕緣值，再嘗試方法A尋找問題點(diǎn)

IEC62446-1:2018 測(cè)試要求

第2類測(cè)試

☆ 串I-V曲線測(cè)量

☆ 紅外測(cè)量

備注：通常情況第2類測(cè)試適用于中大型電站系統(tǒng)抽樣測(cè)試，抽樣比例需要和客戶事先商定

IEC62446-1:2018測(cè)試程序  組串I-V曲線測(cè)量

組串I-V曲線測(cè)量可獲得如下信息：

☆ 開路電壓Voc、短路電流Isc

☆ Vmpp、Impp、最大功率Pmax

☆ 方陣性能的測(cè)量值

☆ 組件/組串填充系數(shù)

☆ 識(shí)別組件/陣列缺陷或遮光問題

備注：I-V曲線測(cè)試儀可同時(shí)轉(zhuǎn)換為STC狀態(tài)下的功率值，用于和銘牌標(biāo)稱值進(jìn)行對(duì)比

IEC62446-1:2018測(cè)試程序  組串I-V曲線測(cè)量設(shè)備

IEC62446-1:2018測(cè)試程序  組串I-V曲線測(cè)量步驟

☆ 確保待測(cè)組串和逆變器斷開

☆ 被測(cè)試組串應(yīng)該隔離并連接到I-V曲線測(cè)試設(shè)備。

☆ 根據(jù)被測(cè)試組件的特性、類型和數(shù)量對(duì)測(cè)試儀器進(jìn)行設(shè)置。

☆ 與I-V 曲線測(cè)試儀相關(guān)的輻照度計(jì)應(yīng)安裝成與陣列平面匹配，并對(duì)其進(jìn)行檢查以確保其不受任何局部遮光或反射光的影響。

☆ 在使用參考電池裝置的情況下，應(yīng)對(duì)其進(jìn)行檢查，以確保其與被測(cè)陣列具有相同的電池技術(shù)，或者針對(duì)技術(shù)上的差異進(jìn)行適當(dāng)?shù)男拚?/span>

☆ 測(cè)試結(jié)果轉(zhuǎn)換為STC狀態(tài)下的功率值

IEC62446-1:2018測(cè)試程序  紅外測(cè)量

該測(cè)試主要著眼于陣列中的異常溫度變化，通常這些異常的溫度變化是各種故障造成：

☆ IR測(cè)試結(jié)果 – 組件熱斑

通常組件溫度應(yīng)相對(duì)均勻，無明顯溫差區(qū)域，但組件在接線盒周圍更熱，因?yàn)闊崃坎粫?huì)被傳導(dǎo)到周圍環(huán)境，另外組件在邊緣、標(biāo)簽、周邊和支撐處看到溫度梯度也是正常的。

☆ IR測(cè)試結(jié)果 - 旁路二極管

如果任何旁路二極管是熱的（打開的），檢查尋找明顯的原因，例如由于二極管保護(hù)的組件上的遮擋或碎片。如果沒有明顯的原因，可以懷疑是一個(gè)壞的組件。

☆ IR測(cè)試結(jié)果 - 電纜連接

組件之間的電線連接不應(yīng)顯著高于電線本身。如果連接更熱，請(qǐng)檢查連接是否松動(dòng)或被腐蝕。

IEC62446-1:2018測(cè)試程序  紅外測(cè)量

IEC62446-1:2018 測(cè)試要求 附加測(cè)試

IEC62446-1:2018版標(biāo)準(zhǔn)小結(jié)

☆ IEC62446-1:2018版標(biāo)準(zhǔn)主要分兩部分：系統(tǒng)文檔要求和驗(yàn)證要求

☆ 與2016版相比，系統(tǒng)文檔要求基本沒有變化，對(duì)驗(yàn)證要求中測(cè)試細(xì)節(jié)做了優(yōu)化，例如對(duì)于測(cè)試結(jié)果的比對(duì)做了詳細(xì)說明并給出限值，增加1000v以上組件的絕緣電阻測(cè)試。

☆ 保留了2016版的附錄D，對(duì)于I-V曲線畸變的原因的判讀，有很高的參考意義

☆ 國(guó)內(nèi)針對(duì)IEC62446.1-2018版推出團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)T/CPIA 0010，在IEC原版基礎(chǔ)上根據(jù)國(guó)情做了內(nèi)容上大幅度的增加，刪減，變更，可參考。